GRAPHTEC记录仪GL260，GL860，GL7000，MT100

KYOWA应变片

PCD-400B（应变测量、电压测量） PCD-430B（电压测量） 用USB连接到电脑，即可进行测量的测量器。 通过堆叠型连接，可简单地扩展到16个通道。

品牌： 日本KYOWA 规格： EDX-5000 备注： EDX-2000升级规格，带触摸屏，EDX系列最高端机型

品牌： 日本共和KYOWA 规格： PCD-430A 备注： PCD-430A传感器接口放大器 只需经由USB接口连接到电脑、即可进行测量的测量器。PCD-430A传感器接口放大器 只需经由传感器接口放大器 只需经由USB接口连接到电脑、即可进行测量的测量器。

品牌： 日本KYOWA 规格： EDX-100A 备注： 可测量高达256通道的多通道测量仪器。通过选择品种丰富的放大器卡可应对多种多样的测量

EDX-200A组合式数据记录器 可继续沿用EDX-100A的各种放大器卡，应对各种各样测量的高端EDX。 ●配备实时数字滤波器 通过8阶数字滤波器能够收录到清晰的波形。 ●高低频双采样模式 　可以减少快现象、满现象的数据量。 ●所有通道能够同步进行10 kHz的高频采样（32通道时） 最高100 kHz时能够3通道同步测量 ●可在高/低温环境中使用（仅EDX-200A-4T） 支持 -20℃～65℃温度下使用 ●单总线同步 （不含EDX-200A-1） 通过最多8台测量器的分散配置能够适用于各种大型测量。

KYOWA各式称重传感器 品牌：日本KYOWA 规格：LCN LUR LMA LUK LMA LCX 备注：LCN LUR LMA LUK LMA LCX

检测旋转体齿轮的晃动，实时捕捉齿隙波动和齿轮错位的行为

品牌： 日本共和KYOWA 规格： EDX-2000 备注： 多种类型的传感器相连接，实现测定、显示、记录、处理等多种功能，应用广泛且具有广泛扩展性的多合一式的动态数据采集器

被测物体之逐行扫描测量，以实现3D形貌、2D轮廓与尺寸、表面粗糙度及外观缺陷等检测。 亚微米级超高精度 不受物体材质影响，透明/高反光材质可稳定测量 一次扫描可同时输出2D/3D图像(3D点云图、2D轮廓图、高清深度图、高清灰度图) 多层材料依旧稳定测量(一次扫描、多层数据、多项检测) 完备的SDK及软件服务

被测物体之单次扫描测量，生成纳米级精度的3D多层形貌，以实现3D形貌、2D轮廓与尺寸、表面粗糙度及外观缺陷等检测。 纳米级超高精度 不受物体材质影响，透明/高反光材质可稳定测量 同时适用于特征复杂表面（如散射表面）与光滑表面 根据应用场景，精度与成像时间可灵活调整，最高可到1nm 完备的SDK及软件服务

硅、透明或半透明材料之薄膜厚度测量。 超高精度（亚纳米级分辨率与重复性） 多层测量（可测10层） 可离线/在线检测(可提供SDK) 膜厚测量范围 可见光版：10nm~100μm 近红外版：10μm ~1mm